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徠卡顯微鏡背散射電子像有較強的成分襯度。但是與二次電子像類似，徠卡顯微鏡成分襯度常與形貌襯度同時存在，所以要設(shè)法加以分離.為此徠卡要充分利用上述特性.令探頭有效面積對樣品上一點所張的角定義為探測器的立體角，探頭中心線與樣品表面間夾角定義為探測器的檢出角.對于大角度傾轉(zhuǎn)的樣品，用小立體角的探頭放在接近樣品表面的低檢出角處，則測得的信號很強，而且徠卡顯微鏡價格能靈敏反映樣品表面局部形貌的變化，形貌襯度強。如果探頭放在高檢出角處，由于背離了信號電子發(fā)射的峰區(qū)，故顯微鏡形貌襯度就很弱...

這樣有什么意義呢？使用清潔度檢測儀(徠卡)您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的VDA19和ISO標準。在定位顆粒物來源上節(jié)省時間也能促成更具經(jīng)濟效益的清潔度分析。全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：利用快捷的化學分析更快地找出污染源在內(nèi)部完成步驟，省時省錢盡量減少甚至不用SEM/EDS進行深入分析-無需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設(shè)備-無需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請在網(wǎng)站...